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人工智能

慕尼黑華南電子展開幕,科瑞技術(shù)AI缺陷檢測亮相高峰論壇

2025China.cn   2020年11月05日

  11月3日,慕尼黑華南電子展開幕,在展會同期舉辦的“智能制造與自動(dòng)化專題論壇”上,科瑞技術(shù)和多家知名企業(yè)一起,圍繞智能制造轉(zhuǎn)型升級的難點(diǎn)痛點(diǎn),分享了行業(yè)洞察和解決方案。

  科瑞技術(shù)參會代表以《結(jié)合運(yùn)動(dòng)控制的AI缺陷檢測技術(shù)及在手機(jī)中框檢測中的應(yīng)用》為題進(jìn)行分享,受到業(yè)內(nèi)關(guān)注。

科瑞技術(shù)代表現(xiàn)場分享

  RevEye AOI 360手機(jī)中框檢測產(chǎn)品,集成了測量定位、缺陷檢測、高頻同步觸發(fā)、多軸軌跡控制等多種精密自動(dòng)化技術(shù),可廣泛用于各類移動(dòng)終端產(chǎn)品的中框外觀缺陷檢測,是科瑞技術(shù)融合運(yùn)動(dòng)控制和人工智能技術(shù),傾力開發(fā)的視覺缺陷檢測平臺。

  該產(chǎn)品應(yīng)用等距線掃軌跡規(guī)劃技術(shù),通過360度掃描整個(gè)手機(jī)中框,實(shí)現(xiàn)對運(yùn)動(dòng)中框表面的一次性清晰成像,成像精度達(dá)到微米級,并通過優(yōu)化現(xiàn)有深度學(xué)習(xí)模型,自主開發(fā)出全新的缺陷識別算法,高速、精準(zhǔn)地實(shí)現(xiàn)對缺陷的定位識別,對圖像的分割和對缺陷區(qū)域尺寸的測量。

  慕尼黑華南電子展總規(guī)模達(dá)到40,000平方米,與中國(深圳)機(jī)器視覺展暨機(jī)器視覺技術(shù)及工業(yè)應(yīng)用研討會、慕尼黑華南電子生產(chǎn)設(shè)備展、華南先進(jìn)激光及加工應(yīng)用技術(shù)展覽會、華南電路板國際貿(mào)易采購博覽會等聯(lián)合同期開展,從研發(fā)、制造到應(yīng)用,展示電子行業(yè)產(chǎn)業(yè)鏈上下游前沿技術(shù),助力加速行業(yè)創(chuàng)新升級。

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