FA1815-20用于檢測尖端IC芯片中使用的高精度載板。其速度最快高達(dá)每秒100點，探針定位精度高，可以測試最細(xì)pad 4μm，在10V電壓下可測試高達(dá)100 GΩ的絕緣電阻。它縮短了以探針卡為代表的高精度基板的檢測時間，并通過消除潛在缺陷實現(xiàn)了高質(zhì)量，從而為提高半導(dǎo)體行業(yè)的生產(chǎn)率做出了貢獻(xiàn)。
FA1815-20的內(nèi)部及其檢測對象高精度基板
主要用途
● 檢測用于人工智能計算的 GPU 的探針卡
● 檢測用于5G和物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備半導(dǎo)體的高精度基板
● 檢測用于智能手機、可穿戴設(shè)備、自動駕駛汽車和其他高性能產(chǎn)品的基板
產(chǎn)品特點
FA1815-20與以前的型號相比，不僅提高了速度和精度，而且還能在不損壞基板的情況下檢測潛在缺陷，從而滿足了日益復(fù)雜的市場需求。
1、探測精度高，可靠性強
高集成度促進(jìn)了回路焊盤的精細(xì)化。FA1815-20 采用高剛性機身設(shè)計和新型探頭控制系統(tǒng)，最小間距為 34 µm(測量焊盤之間的距離)，最小焊盤為 4 µm(電路上的測量點)，確保對極細(xì)回路焊盤也能進(jìn)行可靠的探測。
2、實現(xiàn)高速檢測，提高生產(chǎn)率
更高的集成度也促進(jìn)可設(shè)計的回路焊盤數(shù)量的增加。FA1815-20 通過重新設(shè)計機器硬件和采用新的探針移動算法，與以前的型號相比，檢測時間最多縮短了30%※1。
※1：導(dǎo)通絕緣測試步可達(dá)4,000,000步。
3、在 10 V 電壓下進(jìn)行高達(dá)100 GΩ的絕緣電阻檢測，以減少對基板的損壞
基板上可能導(dǎo)致故障或失效的潛在故障可通過高壓絕緣電阻測試檢測出來。但是，通過施加高電壓，可能會損壞電路板。FA1815-20 使用改進(jìn)的前置放大器，可在 10 V 電壓下實現(xiàn)高達(dá)100 GΩ的絕緣電阻測試。這實現(xiàn)了高度可靠的檢測，并且將損壞基板的風(fēng)險降至最低。
（來源：HIOKI日置）
