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2023慕尼黑上海光博會(huì),濱松展出好物回顧

2025China.cn   2023年07月18日

為期三天的慕尼黑上海光博會(huì)已經(jīng)圓滿落幕了。濱松中國以70年「挑戰(zhàn)」「如一」為主題為大家呈現(xiàn)了濱松在光譜分析、激光加工、激光雷達(dá)、科研成像、無損檢測等眾多應(yīng)用中的發(fā)展歷程,并且也首次展出了濱松中國一體化方案的最新案例分享。

掃描下方二維碼,大家可以進(jìn)入濱松中國云展臺,結(jié)合云展臺的介紹,小編希望可以以更加立體的方式帶大家回顧此次濱松中國的展出內(nèi)容。

光譜分析

光譜分析作為濱松中國在光博會(huì)上最常展出的應(yīng)用,此次也是帶了一眾新老朋友與大家見面。

在中紅外探測器方面,中紅外探測器模塊P16702-011MN以及背照式InAsSb中紅外探測器P16612-011CA,前者以其體積緊湊,高靈敏度,高響應(yīng)速度100 Mhz,一經(jīng)推出便被廣泛應(yīng)用于FTIR、NDIR等領(lǐng)域;后者采用背照式的結(jié)構(gòu)具有更低的檢出下限,更低的溫漂系數(shù),截止波長 ~5um ~10um可選,并且非常的環(huán)境友好。

濱松中國此次還展出了全球首款高速量子級聯(lián)探測器P16309-01,帶寬高達(dá)20 GHz,靈敏度高達(dá)1 mA/W,該款產(chǎn)品可以在室溫工作、無需制冷、無需工作偏壓,具有峰值波長4.65 μm,靈敏度1 mA/W等特點(diǎn),是皮秒級超快現(xiàn)象、時(shí)間拉伸紅外光譜、自由空間中紅外通信等應(yīng)用的首選。

在光譜儀方面,高性能光譜儀C16376-01首次與大家在展會(huì)見面,該產(chǎn)品可以廣泛應(yīng)用于等離子體檢測、OD測試、LIBS測試、低效率發(fā)光測試、膜厚測試等應(yīng)用中,具有極限的動(dòng)態(tài)范圍:2,500,000:1、低F數(shù):F#2.2、低暗噪聲:1.5 e-/pixel/sec、超短積分時(shí)間:100 us等特點(diǎn),如果大家對于該款產(chǎn)品感興趣可以在評論區(qū)留言“高性能光譜儀”,工程師會(huì)第一時(shí)間回復(fù)您的需求。

濱松展出產(chǎn)品中的“老朋友”C12880MA想必大家一定不會(huì)陌生,該產(chǎn)品具有更廣的光譜響應(yīng)范圍,在具有對可見光波段的測量能力的基礎(chǔ)上,進(jìn)而拓展到可對部分近紅外波段的光進(jìn)行測量(340 nm~850 nm)。使產(chǎn)品在食物檢測、水質(zhì)監(jiān)測等領(lǐng)域有了更大的應(yīng)用空間。

激光雷達(dá)

濱松集團(tuán)一直致力于以光子技術(shù)解決人類生活中的問題為己任,不斷地通過技術(shù)創(chuàng)新和產(chǎn)品迭代滿足市場和客戶對我們的需求。目前濱松的產(chǎn)品在汽車激光雷達(dá)、消費(fèi)電子測距雷達(dá),以及科研類大氣雷達(dá)中都有所使用。

濱松針對LIDAR的探測器和激光器產(chǎn)品全流程In-house,從研發(fā)到封測和出貨均在自有工廠完成。探測器產(chǎn)品和激光器產(chǎn)品均可支持客戶訂制,具有高性能、高可靠性、車規(guī)級認(rèn)證等特點(diǎn),且具有大規(guī)模批量交付的經(jīng)驗(yàn)。

探測器端的SiPM產(chǎn)品,PDE也從9%提升到如今的15%,并且濱松最終會(huì)向提升到30%邁進(jìn);產(chǎn)品規(guī)格方面,濱松有單通道和多通道標(biāo)品,并支持客戶訂制化;產(chǎn)品集成度方面,從最初的COB型產(chǎn)品,目前我們已經(jīng)集成了Microlens,后面也可根據(jù)客戶需求集成TIA/ASIC等電芯片,以及參照客戶的需求進(jìn)行探測器和激光器的集成。

激光器端的產(chǎn)品,我們的EEL激光器推出了高功率的4堆疊產(chǎn)品,目前有1ch和8ch的標(biāo)準(zhǔn)品,同時(shí)我們也可針對客戶需求進(jìn)行產(chǎn)品的訂制;激光器封裝品方面,我們推出了μHPL產(chǎn)品,器件內(nèi)部集成微電路,可以實(shí)現(xiàn)超窄脈寬(1 ns),高功率(>100 W)輸出。

激光加工

濱松空間光調(diào)制技術(shù)歷經(jīng)40余年打磨,產(chǎn)品品質(zhì)和性能也已廣泛地獲得行業(yè)認(rèn)可。濱松中國還擁有強(qiáng)大的本地化軟硬件技術(shù)團(tuán)隊(duì),為用戶提供了大量原創(chuàng)原理、應(yīng)用、使用的技術(shù)資料及算法庫。希望真正地去幫助大家,將空間光調(diào)制器了解得更深、使用得更好。

此次激光加工展區(qū),濱松重點(diǎn)為大家展示了一套基于空間光調(diào)制器(SLM)的光束整形的激光加工模塊。系統(tǒng)包括了激光預(yù)處理(擴(kuò)束,偏振調(diào)節(jié))、SLM、4F系統(tǒng)、基于相機(jī)的反饋系統(tǒng)等幾個(gè)部分,涵蓋的功能有:

● CGH算法原理驗(yàn)證;

● 基于相機(jī)反饋提高均勻性和實(shí)現(xiàn)自動(dòng)對焦;

● 根據(jù)客戶機(jī)臺實(shí)際情況進(jìn)行定制,嵌入客戶加工機(jī)臺進(jìn)行打樣,提高客戶機(jī)臺的加工效率與加工效果。

除此之外,濱松在非金屬材料焊接、激光監(jiān)測應(yīng)用上,也展出了諸多產(chǎn)品。首先是擁有極致穩(wěn)定性(工業(yè)應(yīng)用壽命>2萬小時(shí))的激光加熱焊接光源,其擁有平頂光輸出、實(shí)時(shí)監(jiān)測溫度、高可靠性、可變光斑面積和形狀的特性,面向更高品質(zhì)的非塑料焊接需求。

激光監(jiān)測中,我們展出了可用于激光功率監(jiān)測、激光光斑位置監(jiān)測、激光加工效果監(jiān)測的系列光電探測器產(chǎn)品。

無損檢測

無損檢測是此次最火的展區(qū)之一了。我們知道,人眼可感知的“可見光”在整個(gè)光譜中是很窄的,而通過利用X射線的特性,則能“看到”更多的東西,以此也可為各類工業(yè)成像,提供滿足要求的解決方案。

無損檢測展區(qū)中,我們展示了鋰電池/電路板及電子元件檢查、食品異物檢測、X射線熒光衍射應(yīng)用的相關(guān)產(chǎn)品。

微焦點(diǎn)射線源(MFX)是微小焦點(diǎn)的X射線源,微小的焦點(diǎn)能提高透視圖像的分辨率,獲得更高的成像質(zhì)量,是非破壞性X射線檢測的關(guān)鍵器件。濱松可提供全類型(開放管、封閉管)MFX產(chǎn)品,滿足多應(yīng)用場景需求。

濱松MFX擁有30年的悠久歷史,以始終如一的品質(zhì)一直陪伴著廣大客戶。具備高輸出穩(wěn)定性(直流模式和脈沖模式)、輻射劑量分布均勻、大發(fā)射角(130°@130KeV封閉管)、極低不良返品率(中國市場連續(xù)4年<1.5%)等特性。堅(jiān)持做好技術(shù),保證穩(wěn)定可靠,亦是此次我們希望向NDT行業(yè)傳達(dá)出的最真誠的心聲。

針對于食品檢測方面,濱松也為大家提供了軟硬件結(jié)合的解決方案。

科研成像

ORCA-Quest qCMOS相機(jī)在“從未停止追求巔峰”的道路邁下了堅(jiān)實(shí)腳印,比肩EMCCD的高靈敏度、優(yōu)異的信噪比、低至0.27個(gè)電子的讀出噪聲,現(xiàn)如今該產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于科研和工業(yè)成像等各個(gè)應(yīng)用領(lǐng)域。

一體化方案

濱松中國是以傳感器技術(shù)比如光電二極管陣列作為一體化解決方案的產(chǎn)品核心,在此之上,提供光學(xué)技術(shù)(包括光學(xué)組件)、電路設(shè)計(jì)(包括模擬電路ASIC/數(shù)字電路FPGA)、接口軟件、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)等配套產(chǎn)品功能,根據(jù)客戶的需求設(shè)計(jì)、模擬和組裝定制模塊,完成模塊式一體化解決方案的產(chǎn)品交付,更好的滿足學(xué)術(shù)研究、工業(yè)檢測、環(huán)保分析、半導(dǎo)體行業(yè)、醫(yī)療服務(wù)等光子學(xué)相關(guān)的各行業(yè)需求。

本次展出的一體化方案案例是表面檢測用接觸式線掃相機(jī)(CIS、contact image sensor相機(jī))。這是一個(gè)定制模塊案例,它緊湊的外殼內(nèi)集成了多組特制鏡頭和一組高靈敏線性圖像傳感器,以此作為光學(xué)傳感基礎(chǔ),配套高速電子學(xué)傳輸,與曝光時(shí)間、增益等相機(jī)參數(shù)單獨(dú)可調(diào)的圖像采集軟件,可完成約11-17 mm極近距離的高速線掃成像。CIS相機(jī)相較于常規(guī)光學(xué)相機(jī),既節(jié)省了相機(jī)與檢查目標(biāo)之間的工作距離,使得單個(gè)相機(jī)可以覆蓋較大的掃描寬度,還避免了光學(xué)鏡頭本身造成的圖像采集的光學(xué)畸變,可完成一次性的圖像均勻讀取,支持各類在線檢查比如鋰電材料、服裝面料、食品包裝等、可適用于反射式或透射式光學(xué)線掃成像的樣品表面檢測。

(濱松中國)

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