為什么就比別人多了一點(diǎn)點(diǎn)?福祿克新推出的2500V絕緣測試儀Fluke 1537，為什么就比同類產(chǎn)品多了一個(gè)DD(介質(zhì)放電率)的測試呢?
首先普及一下什么叫介質(zhì)放電率，其實(shí)就是絕緣放電測試，也叫再吸收電流測試，是通過測量被測設(shè)備上絕緣體放電電流的一種方法。
介質(zhì)放電率測試在評估絕緣狀況時(shí)非常有用。
電氣設(shè)備中的絕緣材料理論上是不導(dǎo)電的，但實(shí)際是….并不是絕對不導(dǎo)電。在直流電壓作用下，絕緣材料中的電介質(zhì)中有微弱的電流流過。由于電介質(zhì)材料的性質(zhì)、構(gòu)成和結(jié)構(gòu)的不同，會產(chǎn)生三部分的電流：
i1：電容電流(電容充電引起)
i2：吸收電流(不均勻介質(zhì)中由緩慢極化和夾層極化產(chǎn)生)
i3：泄漏電流(絕緣不良造成)
當(dāng)多層次絕緣體其中一層損壞或者污染時(shí)，絕緣放電測試可以確定過量的放電電流事故。使用PI和DAR測試，一個(gè)絕緣缺陷可能被忽略。如果絕緣層中的一層受損了，由于給定的電壓和電容，放電電流可能比較大。個(gè)別層次的時(shí)間常數(shù)將不再匹配其他層次，比起一個(gè)損壞的絕緣體將導(dǎo)致一個(gè)更高的電流值。介質(zhì)放電率就是在絕緣測試停止加壓后，測量一分鐘內(nèi)的介質(zhì)釋放的電流。它的大小取決于測試回路中的電容和絕緣測試的終止電壓。
絕緣層均質(zhì)的絕緣體的DD值將接近于零，而可接受的多層次絕緣體的最大DD數(shù)值不超過2。
（轉(zhuǎn)載）
