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測試測量

提高非接觸式測量效率的好“拍檔”

2025China.cn   2017年07月13日

  全新影像測頭(RVP) 可顯著提高測量效率并具有高性能的五軸測量,適用于非接觸式測量方案。RVP通過將非接觸式檢測功能添加至該系統(tǒng)現(xiàn)有的觸發(fā)式、高速接觸式掃描和表面粗糙度測量功能中,來增強REVO?的多傳感器功能。

 

  非接觸式測量

  就某些應用而言,非接觸式檢測技術明顯優(yōu)于傳統(tǒng)的接觸式測頭測量技術。對于具有大量小至0.5 mm的孔的薄板金屬工件或組件以及不適合接觸式測量的工件,可以利用RVP系統(tǒng)進行全面檢測。RVP同時還利用REVO測座提供的五軸運動和無級定位來顯著提高測量效率和坐標測量機功能。

  RVP— 用于REVO-2的非接觸式影像測頭

  RVP是系統(tǒng)的測頭組件,該系統(tǒng)內置130萬像素全幀曝光CMOS傳感器和數(shù)字信號處理器。測頭內的CMOS傳感器即使在很短的曝光時間內也可采集大量光線,因此圖像采集速度更快、測量時間更短。

  RVP系統(tǒng)有兩個影像模塊,可為不同的應用提供測量功能,允許選擇最合適的工具,用于正在測量的特征。

(轉載)

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