眾所周知，納米/亞微米量級(jí)的樣品在顯微鏡下很難觀察到，這給拉曼光譜的測試帶來了不小的挑戰(zhàn)。
雷尼紹化學(xué)與結(jié)構(gòu)分析儀(SCA)將掃描電鏡與拉曼光譜儀兩大分析系統(tǒng)連接在一起，無需移動(dòng)樣品，就能原位獲得樣品相同測試點(diǎn)的電子圖像(SEM)、元素組成(EDS)、化學(xué)結(jié)構(gòu)(Raman)、電子結(jié)構(gòu)(CL和PL)等多種信息。同時(shí)， SEM和inVia都可以作為獨(dú)立系統(tǒng)運(yùn)行，并保持各自的性能。
法國地質(zhì)學(xué)家使用雷尼紹的Raman-SEM聯(lián)用系統(tǒng)來探測納米世界
BRGM(奧爾良的法國地質(zhì)勘探局，法國)是一個(gè)公共機(jī)構(gòu)，為政府部門、法國及全球的工業(yè)和學(xué)術(shù)研究提供和傳播地質(zhì)信息。BRGM的研究人員主要研究礦物的物理、化學(xué)和結(jié)構(gòu)性質(zhì)。
BRGM配備有SEM-Raman聯(lián)用儀器，通過雷尼紹的結(jié)構(gòu)和化學(xué)分析儀(SCA)接口將雷尼紹inVia共聚焦拉曼光譜儀與TESCAN Mira3掃描電子顯微鏡耦合在一起。Guillaume Wille博士在礦物理化學(xué)和紋理表征部門工作。
Wille博士說：
很多情況下，使用經(jīng)典的光學(xué)耦合模式，光學(xué)對(duì)比度和分辨率是不夠的。借助這種創(chuàng)新的設(shè)備，我們根據(jù)SEM很多模式的成像，結(jié)合拉曼光譜儀獲得了納米/微米尺度的樣品結(jié)構(gòu)。換句話說，拉曼光譜法利用SEM的納米分辨率，在表征納米結(jié)構(gòu)材料中具有強(qiáng)大的優(yōu)勢。
Guillaume Wille博士正在使用雷尼紹Raman-SEM聯(lián)用系統(tǒng)進(jìn)行樣品分析
Wille博士還提道：“使用聯(lián)用系統(tǒng)的工作主要包括：探測亞微米相(固體包裹體)和基體內(nèi)的顆粒;對(duì)只能通過SEM的對(duì)比度或成像模式區(qū)分的復(fù)雜顆粒進(jìn)行拉曼分析;空氣中的顆粒鑒別(SE、BSE、CL);粉末表征，SCA接口可以原位分析微米尺寸的顆粒?！?/FONT>
BRGM開展的工作涵蓋了廣泛的應(yīng)用，最近的案例包括環(huán)境石棉檢測(天然納米纖維)、土壤污染物和氣溶膠顆粒的識(shí)別、以及通過拉曼光譜和陰極射線發(fā)光研究錫石(氧化錫)。
拋光的錫礦薄片上的錫石顆粒
Wille博士及其同事的有關(guān)這方面的論文已報(bào)道出版。文章“Coupled SEM-microRaman system: A powerfultool to characterize a micrometric aluminum-phosphate-sulfate”闡述了如何使用SEM-SCA分析復(fù)雜地質(zhì)系統(tǒng)(例如，火星樣本)中的微尺度磷酸鋁-硫酸鹽(APS)。采用SEM(BSE成像)、EDS和Raman-in-SEM光譜同時(shí)分析具有復(fù)雜組成的微晶粒。
“Raman-in-SEM, a multimodal and multiscaleanalytical tool: Performance for materials and expertise”詳細(xì)介紹了在拉曼光譜使用中計(jì)量學(xué)方面的研究以及多模分析的使用，耦合成像， EDS、EBSD以及拉曼的微量分析。
（轉(zhuǎn)載）
