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測試測量

NI發(fā)布AWR設(shè)計(jì)環(huán)境和LabVIEW之間的全新連接,統(tǒng)一射頻、微波設(shè)計(jì)和測試

2025China.cn   2012年07月30日

新聞要點(diǎn)
        ? AWR設(shè)計(jì)環(huán)境? 中的新NI LabVIEW元素為AWR視覺系統(tǒng)模擬器?(VSS)的用戶擴(kuò)充了信號處理和儀器連接。
        ? NI于6月19-21日,在加拿大蒙特利爾舉行的國際微波研討會(IMS)1315號展位上,展示其最新的連接。
        美國 國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日發(fā)布NI LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件和AWR視覺系統(tǒng)模擬器(VSS)軟件之間的全新連接,用于射頻和微波系統(tǒng)設(shè)計(jì)。 作為NI近期收購AWR后的首次聯(lián)合開發(fā),新的連接可以讓工程師從AWR設(shè)計(jì)環(huán)境中直接執(zhí)行LabVIEW代碼,幫助他們在設(shè)計(jì)流程中更好地進(jìn)行測量。

         感言:
        “我們的首次合作嘗試直接促成了NI LabVIEW和AWR VSS的集成,”AWR首席技術(shù)官Joe Pekarek表示,“我們很高興看到LabVIEW的協(xié)同仿真為VSS帶來了新的性能,并期待將來可以實(shí)現(xiàn)進(jìn)一步的產(chǎn)品集成?!?/FONT>

        產(chǎn)品特性
        ? AWR設(shè)計(jì)環(huán)境現(xiàn)具備各種LabVIEW信號處理功能,包括多速率數(shù)字信號處理(DSP)、無線標(biāo)準(zhǔn)、調(diào)制和定點(diǎn)數(shù)學(xué)等。
        ? 工程師們可通過NI基于現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)的硬件將VHDL和LabVIEW FPGA模塊代碼集成到VSS圖中。
        ? PXI與傳統(tǒng)射頻儀器上的新連接可將測量數(shù)據(jù)方便地融入仿真過程中。

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關(guān)于NI
        自1976年以來,美國國家儀器,簡稱NI (
)一直致力于為工程師和科學(xué)家提供各種工具來提高效率、加速創(chuàng)新和探索。NI的圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)方法為工程界提供了集成式的軟硬件平臺,有助于加速測量和控制系統(tǒng)的開發(fā)。長期以來,NI一直期望并努力通過自身的技術(shù)來改善社會的發(fā)展,確保客戶、員工、供應(yīng)商及股東獲得成功。

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