美國國家儀器公司（National Instruments, 簡稱 NI）近日發(fā)布《2012年自動化測試趨勢展望》,其中分享了公司對最新測試測量技術(shù)和方法的研究發(fā)現(xiàn)。 該趨勢報告詳細介紹了影響眾多行業(yè)的發(fā)展趨勢，包括消費電子產(chǎn)品、汽車、半導(dǎo)體，航空航天與國防、醫(yī)療設(shè)備以及通訊。 工程師和管理人員可從中了解并采用優(yōu)化測試組織的最新策略和最佳方式。
2012年趨勢展望報告由5個類別組成： 商業(yè)戰(zhàn)略、架構(gòu)、計算、軟件和I/O，并探討了以下主要趨勢：
? 測試組織的優(yōu)化: 各個組織將測試工程視為戰(zhàn)略資產(chǎn)，以在競爭中獲得優(yōu)勢。
? 設(shè)計流程中的測量與仿真：將復(fù)雜模型與真實測量結(jié)合，提高產(chǎn)品質(zhì)量，縮短開發(fā)時間。
? PCI Express外部接口: 高速、低延遲PC內(nèi)部總線擁有新的系統(tǒng)拓撲結(jié)構(gòu)，并增強了外部接口功能。
? 移動設(shè)備的迅速普及: “智能手機和平板電腦的普及”正改變著測試系統(tǒng)控制和監(jiān)測的方式。
? 便攜的測量算法：全新工具可實現(xiàn)一次開發(fā)測量IP，即可部署至多個不同的處理單元。
《2012年自動化測試趨勢展望》的內(nèi)容源于學術(shù)界和工業(yè)界的研究、用戶論壇與調(diào)查、商業(yè)智能化和用戶顧問委員會的反饋意見。 該報告以數(shù)據(jù)為基礎(chǔ)，詳細介紹了下一代技術(shù)趨勢，以此應(yīng)對測試測量領(lǐng)域的商業(yè)和技術(shù)挑戰(zhàn)。
《自動化測試趨勢展望》由NI測試行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)委員會編寫，NI創(chuàng)立該委員會，旨在促進全球不同行業(yè)內(nèi)數(shù)千家客戶分享反饋各自的最佳測試測量方法。 NI測試行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)委員會以促進測試行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)人之間的交流為目標，鼓勵他們提出商業(yè)和技術(shù)的獨到見解。 領(lǐng)導(dǎo)委員會的活動內(nèi)容包括領(lǐng)導(dǎo)人會議、同行互通網(wǎng)絡(luò)和技術(shù)交流。
請訪問 ，詳細閱讀2012年《自動化測試趨勢展望》。
關(guān)于NI
自1976年以來，美國國家儀器，簡稱NI ()一直致力于為工程師和科學家提供各種工具來提高效率、加速創(chuàng)新和探索。 NI的圖形化系統(tǒng)設(shè)計方法為工程界提供了集成式的軟硬件平臺,有助于加速測量和控制系統(tǒng)的開發(fā)。 長期以來，NI一直期望并努力通過自身的技術(shù)來改善社會的發(fā)展，確?？蛻?、員工、供應(yīng)商及股東獲得成功。
（轉(zhuǎn)載）
