30多年來，作為測試測量行業(yè)的創(chuàng)新者和虛擬儀器技術(shù)的領(lǐng)導(dǎo)者，National Instruments一直致力于為工程師和科學(xué)家們提供一個通用的軟硬件平臺，用于科技應(yīng)用和工程創(chuàng)新。伴隨著測試需求的多樣化和復(fù)雜化，這種以軟件為核心的測試策略正逐漸成為行業(yè)主流的技術(shù)，并得到廣泛的應(yīng)用，在提高效率的同時降低測試成本。在新興商業(yè)技術(shù)不斷涌現(xiàn)的今天和未來，測試測量行業(yè)正呈現(xiàn)出五個重要的發(fā)展方向。
趨勢一：軟件定義的儀器系統(tǒng)成為主流
如今的電子產(chǎn)品(像iPhone和Wii等)已越來越依重于軟件去定義產(chǎn)品的功能。同樣的，在產(chǎn)品設(shè)計和客戶需求日益復(fù)雜的今天，用于測試測量的儀器系統(tǒng)也朝著以軟件為核心的模塊化方向發(fā)展，使得用戶能夠更快更靈活的將測試集成到設(shè)計過程中去，進一步減少了開發(fā)時間。
通過軟件定義模塊化硬件的功能，用戶可以快速實現(xiàn)不同的測試功能，并應(yīng)用定制數(shù)據(jù)分析算法和創(chuàng)建自定義的用戶界面。相比于傳統(tǒng)儀器固定的功能限制和只是“測試結(jié)果”的呈現(xiàn)，以軟件為核心的模塊化儀器系統(tǒng)能夠賦予用戶更多的主動權(quán)，甚至將自主的知識產(chǎn)權(quán)(IP)應(yīng)用到測試系統(tǒng)中。(見圖1)
在業(yè)界，被認為是最保守的客戶之一的美國國防部在2002年向國會提交的報告中指出下一代測試系統(tǒng)(NxTest)必須是基于現(xiàn)成可用商業(yè)技術(shù)(COTS)的模塊化的硬件，并同時強調(diào)了軟件的能動作用。最新的合成儀器(Synthetic Instrumentation)的概念也無非是經(jīng)過重新包裝的虛擬儀器技術(shù)，將軟件的開放性和硬件的模塊化重新結(jié)合在了一起。
在媒體界,《電子系統(tǒng)設(shè)計》雜志的編輯Louis Frenzel先生在他最近關(guān)于測試行業(yè)趨勢的文章(Synthetic Instrumentation No Longer A Test Case)中也再次肯定了虛擬儀器技術(shù)對于測試測量行業(yè)的革新作用以及軟件定義儀器的發(fā)展方向。
圖1：以軟件為核心的模塊化系統(tǒng)參考架構(gòu)
趨勢二：多核/并行測試帶來機遇和挑戰(zhàn)
多核時代的來臨已成為不可避免的發(fā)展趨勢，雙核乃至八核的商用PC現(xiàn)在已隨處可見。得益于PC架構(gòu)的軟件定義的儀器，用戶可以在第一時間享受到多核處理器為自動化測試應(yīng)用帶來的巨大性能提升。
要充分發(fā)揮多核的性能優(yōu)勢，就必須創(chuàng)建多線程的應(yīng)用程序，例如我們可以將自動化測試程序的數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)分析、數(shù)據(jù)記錄乃至用戶界面部分創(chuàng)建不同的線程，從而分配到不同的核上并行的運行。不過，這樣并行的開發(fā)理念使得習(xí)慣于傳統(tǒng)串行開發(fā)方式的工程師難以適應(yīng)，尤其是當(dāng)核的數(shù)目越來越多……
挑戰(zhàn)和機遇往往是并存的，作為圖形化語言的代表，LabVIEW在設(shè)計當(dāng)初就考慮到了并行處理的需求，從LabVIEW 5.0開始支持多線程到現(xiàn)在已有10多年的歷史?？梢院敛豢鋸埖卣f，天生并行的LabVIEW就是這樣一種馳騁多核技術(shù)時代的編程語言，通過自動的程序多線程化(見圖2)，開發(fā)人員可以無需考慮底層的實現(xiàn)機制，就可以高效地享用多核技術(shù)所帶來的益處。
無論是歐南天文臺極大望遠鏡高達2700萬次乘加運算的鏡面控制，到Tokamak核聚變裝置的實時處理運算，還是NASA的飛機安全性測試和TORC汽車控制快速原型設(shè)計，LabVIEW多核技術(shù)都為這些應(yīng)用帶來了巨大的性能和吞吐量的提升，隨著多核技術(shù)的進一步發(fā)展，提升的幅度將更為可觀。
圖2：LabVIEW中的自動多線程和并行的數(shù)據(jù)流編程
趨勢三：基于FPGA的自定義儀器將更為流行
隨著設(shè)計和測試的要求越來越高，F(xiàn)PGA(現(xiàn)場可編程門陣列)技術(shù)正逐漸被引入到最新的模塊化儀器中，這也就是我們所說的基于FPGA的自定義儀器。
FPGA的高性能和可重復(fù)配置特性一直是硬件設(shè)計工程師們的最愛，而對于測試工程師而言，又何嘗不想擁有硬件級的確定性和并行性呢？像諸如實時系統(tǒng)仿真、高速內(nèi)存測試等應(yīng)用都需要用到FPGA來確保響應(yīng)的實時性和高速的數(shù)據(jù)流入和流出，F(xiàn)PGA的IP核更是可以為工程師植入自主知識產(chǎn)權(quán)的算法提供契機。然而，苦于對硬件設(shè)計知識的缺乏和對VHDL或Verilog語言編程的恐懼，許多測試工程師對于FPGA技術(shù)望而卻步。
現(xiàn)在，NI提供的R系列數(shù)據(jù)采集和FlexRIO產(chǎn)品家族將高性能的FPGA集成到現(xiàn)成可用的I/O 板卡上，供用戶根據(jù)應(yīng)用進行定制和重復(fù)配置，同時配合LabVIEW FPGA直觀方便的圖形化編程，用戶能夠在無需編寫底層VHDL代碼的情況下，快速地配置和編程FPGA的功能，用于自動化測試和控制應(yīng)用。(見圖3)
前段時間，歐洲核子研究中心(CERN)為世界最強大的粒子加速度器——大型強子對撞機(LHC)配備了超過120套帶有可重復(fù)配置I/O模塊的NI PXI系統(tǒng)，用于控制瞄準儀的運動軌跡和監(jiān)測其實時位置，從而確保粒子在既定的路徑中運作。為了保證極高的可靠性和精確性，F(xiàn)PGA成為其必備的測試和控制技術(shù)。
隨著對FPGA技術(shù)應(yīng)用復(fù)雜性的簡化，可以預(yù)計，擁有高性能和靈活性的FPGA技術(shù)將越來越多的被應(yīng)用于未來的儀器系統(tǒng)中.
圖3:NI帶FPGA的可重復(fù)配置I/O板卡和LabVIEW FPGA圖形化編程
趨勢四：無線標準測試的爆炸性增長
面對這樣的挑戰(zhàn)，一種以軟件為核心的無線測試平臺正嶄露頭角。信號的上下變頻和數(shù)字化由模塊化的射頻硬件的完成，而編解碼和調(diào)制解調(diào)的過程全部通過軟件實現(xiàn)。這樣，在統(tǒng)一的模塊化硬件平臺上，只需修改軟件就可以滿足不同無線標準的測試需求，使得工程師有能力在第一時間測試最新的標準，加快產(chǎn)品的上市時間。
NI LabVIEW和PXI RF平臺就是這樣一個軟件無線電的測試平臺，多年來已經(jīng)成為工程師和科學(xué)家們開發(fā)無線標準和測試無線應(yīng)用的必備工具。德州大學(xué)奧斯汀分校的師生基于NI的軟件無線電平臺，在短短6周時間內(nèi)開發(fā)出MIMO-OFDM 4G的系統(tǒng)原型；成都華日通信公司(國內(nèi)無線電頻譜管理設(shè)備主要供應(yīng)商)利用NI PXI矢量信號分析儀和LabVIEW開發(fā)了帶有自主產(chǎn)權(quán)的HR-100寬帶無線電接收機和監(jiān)測系統(tǒng)，已廣泛應(yīng)用于國內(nèi)的頻譜監(jiān)測和信號定向領(lǐng)域。聚星儀器(NI大陸地區(qū)系統(tǒng)聯(lián)盟商)也開發(fā)出了全球首個支持C1G2 RFID標準全部指令的測試設(shè)備，并實現(xiàn)了與RFID標簽微秒級的實時通信。
圖4：基于LabVIEW和PXI軟件無線臺測試平臺
趨勢五：協(xié)議感知（Protocol-Aware）ATE將影響半導(dǎo)體的測試
如今的半導(dǎo)體器件變得愈加的復(fù)雜，高級的片上系統(tǒng)(SoC)和封裝系統(tǒng)(SiP)相比典型的基于矢量的器件測試而言，需要更為復(fù)雜的系統(tǒng)級的功能測試。現(xiàn)在器件的功能也不再是通過簡單的并行數(shù)字接口實現(xiàn)，而是更多的依賴于高速串行總線和無線協(xié)議進行輸出，這就要求測試設(shè)備和器件之間能夠在指定的時鐘周期內(nèi)完成高速的激勵和響應(yīng)測試。
復(fù)雜的測試需求催生了協(xié)議感知(Protocol-Aware)ATE的誕生，Andrew Evans在2007國際測試會議(ITC)上發(fā)表的論文“The New ATE - Protocol Aware”中首次提出了這個概念。這是一種模仿器件真實使用環(huán)境(包括外圍接口)的方法，按照器件期望的使用方式，進行有針對性的器件功能測試和驗證。
國際半導(dǎo)體測試協(xié)會(STC)和新近成立的半導(dǎo)體測試合作聯(lián)盟(CAST)都在考慮為自動化測試廠商制定開放的測試架構(gòu)以滿足日益增加的半導(dǎo)體測試需求和降低測試成本。NI作為STC協(xié)會便攜式測試儀器模塊(PTIM)工作組的主席，正在致力于創(chuàng)建一種新的指南和標準，使得工程師能夠?qū)⒌谌降哪K化測試儀器(如PXI)集成到傳統(tǒng)的半導(dǎo)體ATE中，以實現(xiàn)更為靈活自定義、符合“協(xié)議感知”要求的半導(dǎo)體測試系統(tǒng)。
把握發(fā)展趨勢，占據(jù)市場先機，在全球經(jīng)濟步入調(diào)整期的今天，相信測試測量行業(yè)仍會有一個美好的未來。
（轉(zhuǎn)載）
