美國國家儀器公司(NI)正在籌辦第四屆自動化測試年度峰會，舉辦技術會議，聚焦于識別趨勢，克服自動化測試領域的新挑戰(zhàn)。2007自動化測試峰會將在5月8號在互聯(lián)網(wǎng)上直播舉辦，并將在網(wǎng)上根據(jù)需求保存90天。在這一個免費的全天候峰會里，參與者可以觀看主題演講，關注技術會議，參與問答論壇實況以及在參展商區(qū)域與供應商互動。
美國國家儀器公司自動化測試產(chǎn)品經(jīng)理Kevin Bisking表示：“每年，國家儀器公司和技術領導者和ATE供應商一道共同舉辦自動化測試峰會，它為來自領先的電子制造商的測試工程師和經(jīng)理們所遇到的挑戰(zhàn)展示了最新的應對測試策略和技術。為了使工作量日益增多的工程師們可以更容易地參與峰會，今年NI通過網(wǎng)絡舉辦本次峰會。工程師們將可以方便地學到測試開發(fā)中的最優(yōu)方法。”
來自微軟、英特爾、Tektronix、Averna 和 BAE 系統(tǒng)等公司的代表將在峰會期間分享他們的技術專長和最佳方法。NI商業(yè)和技術的研究員Mike Santori將發(fā)表“開發(fā)下一代測試系統(tǒng)”的主題演講。而德州儀器的自動化架構經(jīng)理Marvin Landru
技術會議包含下面的議題：
通過移植一個通用測試系統(tǒng)架構減少成本；
利用下一代技術提高系統(tǒng)性能；
開發(fā)一個全球化測試程序的策略；
將新的測量法結合到一個測試系統(tǒng)的最佳方法
（轉載）
