美國(guó)國(guó)家儀器公司(NI)正在籌辦第四屆自動(dòng)化測(cè)試年度峰會(huì)，舉辦技術(shù)會(huì)議，聚焦于識(shí)別趨勢(shì)，克服自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域的新挑戰(zhàn)。2007自動(dòng)化測(cè)試峰會(huì)將在5月8號(hào)在互聯(lián)網(wǎng)上直播舉辦，并將在網(wǎng)上根據(jù)需求保存90天。在這一個(gè)免費(fèi)的全天候峰會(huì)里，參與者可以觀看主題演講，關(guān)注技術(shù)會(huì)議，參與問(wèn)答論壇實(shí)況以及在參展商區(qū)域與供應(yīng)商互動(dòng)。
美國(guó)國(guó)家儀器公司自動(dòng)化測(cè)試產(chǎn)品經(jīng)理Kevin Bisking表示：“每年，國(guó)家儀器公司和技術(shù)領(lǐng)導(dǎo)者和ATE供應(yīng)商一道共同舉辦自動(dòng)化測(cè)試峰會(huì)，它為來(lái)自領(lǐng)先的電子制造商的測(cè)試工程師和經(jīng)理們所遇到的挑戰(zhàn)展示了最新的應(yīng)對(duì)測(cè)試策略和技術(shù)。為了使工作量日益增多的工程師們可以更容易地參與峰會(huì)，今年NI通過(guò)網(wǎng)絡(luò)舉辦本次峰會(huì)。工程師們將可以方便地學(xué)到測(cè)試開(kāi)發(fā)中的最優(yōu)方法?！?/P>
來(lái)自微軟、英特爾、Tektronix、Averna 和 BAE 系統(tǒng)等公司的代表將在峰會(huì)期間分享他們的技術(shù)專(zhuān)長(zhǎng)和最佳方法。NI商業(yè)和技術(shù)的研究員Mike Santori將發(fā)表“開(kāi)發(fā)下一代測(cè)試系統(tǒng)”的主題演講。而德州儀器的自動(dòng)化架構(gòu)經(jīng)理Marvin Landru
技術(shù)會(huì)議包含下面的議題：
通過(guò)移植一個(gè)通用測(cè)試系統(tǒng)架構(gòu)減少成本；
利用下一代技術(shù)提高系統(tǒng)性能；
開(kāi)發(fā)一個(gè)全球化測(cè)試程序的策略；
將新的測(cè)量法結(jié)合到一個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的最佳方法
（轉(zhuǎn)載）
