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測試測量

NI攜手孤波,助力韋爾半導(dǎo)體建立從實驗室驗證到量產(chǎn)的標準化測試流程

2025China.cn   2020年05月25日

  近日,全球領(lǐng)先的測試測量廠商NI(National Instruments)宣布與上海孤波科技有限公司(簡稱孤波)、上海韋爾半導(dǎo)體股份有限公司(簡稱韋爾半導(dǎo)體)達成合作。孤波借助NI開放的LabVIEW平臺和模塊化的PXI硬件,開發(fā)出滿足韋爾半導(dǎo)體射頻芯片產(chǎn)品的測試方案,幫助韋爾半導(dǎo)體建立從實驗室驗證到量產(chǎn)的標準化測試流程,加速產(chǎn)品上市時間。

  2020年新基建的提出,加速了各領(lǐng)域的智能化升級,受應(yīng)用端的驅(qū)動,芯片行業(yè)迎來了新的發(fā)展期。在此背景下,NI、孤波和韋爾半導(dǎo)體三方的合作對于推動半導(dǎo)體行業(yè)創(chuàng)新具有重要意義。韋爾半導(dǎo)體作為專注于半導(dǎo)體器件的設(shè)計和銷售公司,面臨著將產(chǎn)品迭代速度快,上市時間縮短的挑戰(zhàn)。未來,三方將共同探索,攜手打造高效的芯片測試模式,致力于優(yōu)化測試流程、縮短測試時間、降低測試成本。

  作為致力于開發(fā)標準的半導(dǎo)體自動化驗證、測試軟件平臺的創(chuàng)新者,孤波將與NI共同推進測試測量標準化流程在各行各業(yè)行業(yè)的落地。上海孤波科技有限公司總經(jīng)理周浩表示:“孤波打造基于LabVIEW和C#的易用的軟件平臺SIVA,結(jié)合NI的PXI和客戶自有的第三方臺式儀表,為客戶打造跨產(chǎn)品線,跨office,甚至跨BU的測試統(tǒng)一服務(wù),統(tǒng)一測試標準,從而提高測試效率,加速客戶的產(chǎn)品開發(fā)和量產(chǎn)進程?!?/P>

  上海韋爾半導(dǎo)體股份有限公司副總裁紀剛指出:“在NI的開放的PXI架構(gòu)和孤波易用的SIVA軟件的幫助下,韋爾半導(dǎo)體實現(xiàn)了多條產(chǎn)品線從實驗室驗證到量產(chǎn)的測試標準化和平臺復(fù)用,極大地降低了測試成本,提升了測試效率,從而幫助我們加快產(chǎn)品的迭代速度,更好地應(yīng)對快速的市場變化?!?/P>

  芯片越來越復(fù)雜,而芯片從研發(fā)到量產(chǎn)的周期卻越來越短,如何實現(xiàn)從實驗室到量產(chǎn)整個環(huán)節(jié)的全面與快速驗證,是工程師們面臨的一個重大挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)的測試方法無法應(yīng)對現(xiàn)在的挑戰(zhàn),為滿足日益復(fù)雜的測試需求,有效控制成本和測試時間,工程師需要現(xiàn)代化芯片測試(ModernLab)方法,即基于標準化、高效的芯片實驗室運營流程方法。

  NI 亞太區(qū)銷售總監(jiān)陳健忠強調(diào):“ModernLab的概念由NI首次提出,NI致力于將ModernLab的理念帶入中國,幫助中國客戶建立這套標準化的測試流程,在芯片測試過程中建立標準和可遷移的架構(gòu),幫助廠商實現(xiàn)在不同地區(qū)標準測試臺的部署和協(xié)同運營,同時為未來新技術(shù)的研發(fā)提供充分的靈活性。”

  測試貫穿于芯片產(chǎn)業(yè)鏈的每個環(huán)節(jié),隨著芯片產(chǎn)品多樣性和復(fù)雜性的增長,基于現(xiàn)代化的測試方法打造測試系統(tǒng)非常必要。NI和孤波將發(fā)揮各自獨特的優(yōu)勢,幫助韋爾半導(dǎo)體占領(lǐng)市場先機。

(轉(zhuǎn)載)

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