全球領(lǐng)先的測(cè)試、測(cè)量和監(jiān)測(cè)儀器提供商---泰克公司日前宣布，其將在2013設(shè)計(jì)自動(dòng)化大會(huì)(6月2 - 6日，德克薩斯州奧斯汀，819展位)上展出其最新推出的Certus 2.0 ASIC原型 (prototyping) 調(diào)試解決方案。設(shè)計(jì)自動(dòng)化大會(huì) (DAC) 是以電子系統(tǒng) (EDA)、嵌入式系統(tǒng)及軟件 (ESS) 和知識(shí)產(chǎn)權(quán) (IP) 為主題的重要大會(huì)。
首次在設(shè)計(jì)自動(dòng)化大會(huì)上亮相的Certus 2.0軟件套件和基于RTL的嵌入式儀器通過(guò)幫助實(shí)現(xiàn)完整的RTL級(jí)可視性使FPGA內(nèi)部可視性成為原型化平臺(tái)的特性，從根本上改變了ASIC原型化流程。仿真級(jí)可視性使工程師能夠使用現(xiàn)有工具在一天內(nèi)診斷多個(gè)缺陷，而不需要花一個(gè)星期或更多時(shí)間。
“FPGA合作生態(tài)系統(tǒng)范圍內(nèi)一直缺少針對(duì)ASIC原型的主動(dòng)式調(diào)試功能”，泰克公司嵌入式儀器事業(yè)部總經(jīng)理Dave Farrell表示，“設(shè)計(jì)自動(dòng)化大會(huì)參加者現(xiàn)在將能親眼目睹Certus 2.0如何從根本上改變ASIC原型化流程和顯著提高調(diào)試效率?！?/FONT>
主動(dòng)式調(diào)試策略
Certus 2.0允許設(shè)計(jì)人員自動(dòng)調(diào)試多FPGA ASIC原型中的每個(gè)FPGA可能需要的所有信號(hào)而很少影響FPGA的LUT。這有助于采取主動(dòng)式調(diào)試和工具化(instrumentation) 策略，使得無(wú)需通過(guò)對(duì)FPGA進(jìn)行重新編譯來(lái)調(diào)試每個(gè)新行為，而這在使用傳統(tǒng)工具時(shí)通常是一項(xiàng)需要8-18個(gè)小時(shí)的艱苦任務(wù)。其他重要功能包括：
?根據(jù)類(lèi)型和實(shí)例名稱(chēng)(包括觸發(fā)器 [flip-flop]、狀態(tài)機(jī)、接口和枚舉類(lèi)型)進(jìn)行RTL信號(hào)的自動(dòng)識(shí)別和工具化
?片上處理取高度壓縮的快速捕獲數(shù)據(jù)，無(wú)需使用特殊外部硬件或消耗FPGA I/O資源
?先進(jìn)的片上(on-chip)觸發(fā)功能使嵌入式儀器也能利用邏輯分析儀觸發(fā)方法
?以時(shí)間相關(guān)方式捕獲來(lái)自不同時(shí)鐘域和多個(gè)FPGA 的捕獲數(shù)據(jù)提供了完整的目標(biāo)設(shè)計(jì)的系統(tǒng)級(jí)視圖
?Certus 2.0可運(yùn)行于任何現(xiàn)有商業(yè)或定制ASIC原型化平臺(tái)，且無(wú)需特殊連接器、電纜或外部硬件。
泰克嵌入式儀器解決方案
在2011年收購(gòu)了Veridae Systems公司后，泰克嵌入式儀器解決方案在電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化 (EDA) 軟件幫助工程師解決艱巨的工具化和調(diào)試挑戰(zhàn)方面，變得越來(lái)越重要。
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關(guān)于泰克公司
60多年以來(lái)，工程師們不斷向泰克尋求測(cè)試，測(cè)量和監(jiān)測(cè)解決方案以應(yīng)對(duì)設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)，提高生產(chǎn)效率，大幅縮短產(chǎn)品上市時(shí)間。泰克公司是一家領(lǐng)先的測(cè)試儀器提供商，為專(zhuān)注于電子設(shè)計(jì)、制造及先進(jìn)技術(shù)開(kāi)發(fā)的工程師提供支持。泰克公司的總部設(shè)在美國(guó)俄勒岡州畢佛頓，為全球范圍內(nèi)的客戶(hù)提供備受贊譽(yù)的服務(wù)和支持。獲得前沿技術(shù)，請(qǐng)登陸。
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