siemens x
傳感器

基于虛擬儀器技術(shù)的應(yīng)變測(cè)量(圖)

2025China.cn   2009年12月31日

  0 虛擬儀器技術(shù)與LabVIEW

  是利用高性能的模塊化硬件,結(jié)合高效靈活的軟件完成各種測(cè)試、測(cè)量和自動(dòng)化的應(yīng)用。虛擬儀器技術(shù)具有性能高,擴(kuò)展性強(qiáng),開發(fā)時(shí)間少及出色的集成能力等優(yōu)勢(shì)?;谔摂M儀器技術(shù)可以開發(fā)適應(yīng)不同應(yīng)用場(chǎng)合的虛擬儀器測(cè)試方案,更好地組建自動(dòng)化程度較高,數(shù)據(jù)處理分析能力較強(qiáng)的測(cè)試系統(tǒng)口。Lab- VIEW是一個(gè)具有革命性的圖形化開發(fā)環(huán)境,內(nèi)置信號(hào)采集、測(cè)量分析與數(shù)據(jù)顯示功能,摒棄了傳統(tǒng)開發(fā)工具的復(fù)雜性,在提供強(qiáng)大功能的同時(shí),還保證了系統(tǒng)的靈活性;LabVIEW將廣泛的數(shù)據(jù)采集、分析與顯示功能集中在同一個(gè)環(huán)境中,可以在自己的平臺(tái)上無(wú)縫地集成一套完整的應(yīng)用方案Ⅲ。正因?yàn)榫哂腥绱司薮蟮膬?yōu)點(diǎn),使它成為建立測(cè)試與測(cè)控系統(tǒng)的最佳選擇。

  1 應(yīng)變測(cè)量原理

  半導(dǎo)體應(yīng)變片可用于應(yīng)力測(cè)量和應(yīng)力分析,以及作為各種傳感器的力一電轉(zhuǎn)換元件,它基于金屬絲在受拉或受壓后發(fā)生彈性形變,其電阻值也隨之產(chǎn)生相應(yīng)的變化這一物理特性實(shí)現(xiàn)的。

  在金屬絲變形的彈性范圍內(nèi),電阻的相對(duì)變化△R/R與應(yīng)變△L/L成正比,因而△R/R=K△L/L。其中,K為電阻應(yīng)變片的靈敏系數(shù)。用應(yīng)變片測(cè)量應(yīng)變或應(yīng)力時(shí),是將應(yīng)變片粘貼于被測(cè)對(duì)象上,在外力作用下,被測(cè)對(duì)象表面產(chǎn)生微小機(jī)械變形,粘貼在其表面上的應(yīng)變片亦隨其發(fā)生相同的變化,因此應(yīng)變片的電阻也發(fā)生相應(yīng)的變化。當(dāng)壓力F在一定范圍內(nèi)時(shí),應(yīng)變?chǔ)舩以一個(gè)常數(shù)正比于F。

  式中:L為兩孔中心距的50%;E為梁的彈性模量;b為梁的寬度;h為孔上下最薄處的厚度。

  如圖1所示,在雙孔梁的上下兩端面分別對(duì)應(yīng)孔的頂端處貼上電阻應(yīng)變片,將它們按圖1(b)所示的方式組成全橋測(cè)量電路。這種橋式測(cè)量電路,可以靈敏地測(cè)量極微小的電阻變化。當(dāng)彈性體受物體作用時(shí),彈性體便產(chǎn)生彈性形變,粘在其表面的電阻應(yīng)變片則隨其同步變形,因而改變了它們的電阻值。由于電阻應(yīng)變片組成的橋式電路是平衡的,而電阻應(yīng)變片的電阻變化會(huì)引起電橋的不平衡,因而輸出電壓信號(hào),該信號(hào)與梁端的受力F成正比。


  當(dāng)力F使單個(gè)應(yīng)變片的電阻變化△R時(shí),全橋測(cè)量電路的輸出電壓U0=U△R/R。應(yīng)變測(cè)試過(guò)程如圖2所示。


  其中,信號(hào)調(diào)理電路包括信號(hào)放大和濾波,其作用是對(duì)信號(hào)進(jìn)行必要的調(diào)理。如果選用NI公司具有信號(hào)調(diào)理模塊的數(shù)據(jù)采集卡,則不必再另外設(shè)計(jì)信號(hào)調(diào)理電路。本文選用LabJack公司的U12數(shù)據(jù)采集卡作為數(shù)據(jù)采集設(shè)備,設(shè)計(jì)信號(hào)調(diào)理電路。

  2 應(yīng)變片選用——BP型半導(dǎo)體應(yīng)變片

  BP 型半導(dǎo)體應(yīng)變片可用于應(yīng)力測(cè)量和應(yīng)力分析,并作為各種傳感器的力-電轉(zhuǎn)換元件。它們具有靈敏度高(比金屬應(yīng)變片大50~100倍左右),機(jī)械滯后小,體積小,耗電少等優(yōu)點(diǎn)。其高的靈敏度使輸出信號(hào)電平增大幾十倍,所以不必采用放大器而直接用電壓表或示波器等簡(jiǎn)單儀表就可以直接記錄測(cè)量結(jié)果,因而使得測(cè)量?jī)x表大為簡(jiǎn)化;再加上它的機(jī)械滯后小,可以測(cè)量靜態(tài)應(yīng)變、低頻應(yīng)變等,在許多新技術(shù)中,如火箭、導(dǎo)彈、飛機(jī)等制造工業(yè)及遙測(cè)系統(tǒng)中,半導(dǎo)體應(yīng)變片具有獨(dú)特的應(yīng)用價(jià)值。

  BP-6-120型半導(dǎo)體應(yīng)變片技術(shù)參數(shù):

  硅絲尺寸為6mm×0.4 mm×0.05 mm;基底尺寸為10 mm x 6 mm;靈敏系數(shù)120;電阻溫度系數(shù)小于0.2%;靈敏度溫度系數(shù)小于0.16%;允許工作電流25 mA;允許最大應(yīng)變2 000με;極限工作溫度100℃。

  3 信號(hào)濾波電路

  從應(yīng)變片組成的電橋電路中出來(lái)的電壓信號(hào)通常會(huì)伴隨著噪聲、振動(dòng)等于擾,為了得到較為準(zhǔn)確的低頻應(yīng)變信號(hào),在將采集到的應(yīng)變信號(hào)送到計(jì)算機(jī)之前,需要進(jìn)行濾波處理。雙二階環(huán)濾波電路利用兩個(gè)以上的加法器、積分器等組成的運(yùn)算放大電路,根據(jù)要求的傳遞函數(shù),引入適當(dāng)?shù)姆答仯瑯?gòu)成濾波電路。其突出特點(diǎn)是電路靈敏度低,特性非常穩(wěn)定,并可實(shí)現(xiàn)多種濾波功能,這里使用低通濾波。具體電路如圖3所示。

  構(gòu)成低頻濾波器時(shí),電路固有頻率和通帶增益如下:


  4.1 電阻片的溫度效應(yīng)

  電阻片由金屬材料制成,它的阻值隨著溫度的變化也將產(chǎn)生變化。另外,由于試件和電阻材片的線性膨脹系數(shù)不同,從而會(huì)使電阻片的阻值發(fā)生變化。溫度變化引起的電阻變化是客觀存在的,但不希望在測(cè)量結(jié)果中反映出來(lái)。

  4.2 溫度補(bǔ)償

  作為測(cè)量電橋的四個(gè)臂,當(dāng)稱重時(shí)受到負(fù)載F的作用后,R1,R2受拉伸阻值增加,R3,R4受壓縮阻值下降,四個(gè)應(yīng)變片組成差動(dòng)電橋,輸出特性的線性度好,并且還具有溫度補(bǔ)償作用。輸出應(yīng)變信號(hào)電壓為:

  式中:ε1,ε2,ε3,ε4分別為各橋臂應(yīng)變片感受的應(yīng)變量;εT為各應(yīng)變片隨溫度變化所產(chǎn)生的應(yīng)變量。

  4.3 橋路預(yù)調(diào)零點(diǎn)

  為測(cè)量方便起見,在試件變形前,要求電橋起始輸出電壓等于零,即U0=0。要挑選完全一樣的電橋電阻是很困難的,可以采取在電橋上調(diào)零的措施來(lái)達(dá)到使其平衡的目的。這里采用并聯(lián)電阻法,如圖4所示。調(diào)整電位器Ra,使R3,R4上并聯(lián)的電阻得到調(diào)整,以達(dá)到調(diào)零的作用。


  5 測(cè)量系統(tǒng)硬件組成和軟件設(shè)計(jì)

  系統(tǒng)硬件部分主要包括雙孔梁、BP-6-120型半導(dǎo)體應(yīng)變片、全橋電路、通用PC機(jī)、數(shù)據(jù)采集卡、信號(hào)調(diào)理電路。利用NI公司的LabVIEW 8.0軟件作為程序設(shè)計(jì)編譯環(huán)境和工具。

  本系統(tǒng)選用較簡(jiǎn)單的測(cè)量程序流程,如圖5所示。


  啟動(dòng)應(yīng)用程序,輸入相關(guān)測(cè)試參數(shù)和采樣數(shù)據(jù)存放路徑,點(diǎn)擊“采集數(shù)據(jù)”開始,進(jìn)行應(yīng)變量的采集,點(diǎn)擊處理數(shù)據(jù),程序?qū)λ蓸訑?shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算處理,得出在力F作用下的應(yīng)變值。圖6所示為雙孔梁應(yīng)變測(cè)量實(shí)驗(yàn)前面板。

    基于LabVIEW圖形化的編程方式直接簡(jiǎn)便,使得程序更加簡(jiǎn)潔,降低程序的開發(fā)難度,減少程序的開發(fā)時(shí)間。本軟件設(shè)計(jì)主要完成應(yīng)變信號(hào)數(shù)據(jù)的采集、管理、處理分析與結(jié)果輸出等。程序設(shè)計(jì)框圖如圖7所示。

  6 結(jié) 語(yǔ)

  介紹在LabVIEW平臺(tái)下設(shè)計(jì)應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)的方法。LabVIEW在測(cè)試測(cè)量領(lǐng)域有著卓越的優(yōu)勢(shì),是儀器開發(fā)領(lǐng)域的一個(gè)新的發(fā)展方向。該文給出了它的一個(gè)簡(jiǎn)單應(yīng)用,實(shí)現(xiàn)了對(duì)應(yīng)力應(yīng)變信號(hào)的實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)采集和檢測(cè)。(源自百度空間)

(轉(zhuǎn)載)

標(biāo)簽:虛擬儀器 我要反饋 
2024世界人工智能大會(huì)專題
即刻點(diǎn)擊并下載ABB資料,好禮贏不停~
優(yōu)傲機(jī)器人下載中心
西克
2024全景工博會(huì)
專題報(bào)道